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最高法院確立均等論分析由「特徵比對」原則改為「整體比對」原則
有關專利侵權均等論分析之法律標準，台灣法院實務向來採取美國式的「特徵比對」（element by element）原則，而非德國式的「整體比對」（as a whole）原則。均等論依「特徵比對」原則進行分析，其成立均等論侵權之空間，相較於「整體比對」原則，理論上必然較狹窄。然而，最高法院在2014年9月的一則判決，明確改採「整體比對」原則，對於均等論分析之法律標準而言可謂係極為重要的變革，而且對於專利權人較為友善。
關於判斷均等論侵權之法律標準，最高法院曾經邀請兩位重量級的法學教授撰寫專文並至最高法院演講，而這兩位教授分別留學德國及美國，留德的學者主張應改採「整體比對」原則，留美的學者則認為應繼續維持「特徵比對」原則。2010年，最高法院第一次在個案判決中，明確表示均等論之判斷應以「整體比對」原則進行，這是第一次最高法院就此重要之法律爭議表達立場。
不過，在2010年的判決之後，專責審理專利侵權案件之智慧財產法院，仍堅守「特徵比對」之立場，在為數眾多的一審及二審判決中，持續適用「特徵比對」原則。
在一件涉及「眼罩」專利之個案，其事實略為：「系爭專利申請專利範圍第一項之主機本體係…。而系爭產品之主機本體係…。二者技術手段之差異在於：系爭專利申請專利範圍第一項之主機本體內，除具有導氣管、震動馬達及接線板外，並界定充氣幫浦、洩氣閥、蜂鳴器等三構件；而系爭產品之主機本體內僅含導氣管、震動馬達及接線板之構件，將充氣幫浦、洩氣閥、蜂鳴器等三構件置於控制器中。是以系爭產品之主機本體中減少充氣幫浦、洩氣閥、蜂鳴器之元件，與系爭專利申請專利範圍第一項將此三構件與其他構件集中於主機本體上之技術手段並不相同」。
在眼罩案，二審之智慧財產法院兩度本於「特徵比對」原則，認定不成立均等而判決專利權人敗訴，經專利權人上訴，最高法院兩度廢棄原判決並發回智慧財產法院重審，在智慧財產法院第三次的二審審判程序，終於改採「整體比對」原則，改判專利權人勝訴，這是專利權人第一次在該案取得勝訴！雖經被告向最高法院提出上訴，最高法院於2014年9月駁回上訴，全案乃告確定。
經過眼罩案三度上、下最高法院的過程，一般咸認為「整體比對」原則業經確立，日後專利權人應得本於眼罩案之最高法院判決主張均等論侵權，並藉此追求相對較寬廣之均等論成立空間。